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Exemplar? T

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TE制冷的智能光譜儀
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TE制冷的智能光譜儀
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Exemplar? T (BTC665N) 是一款高通量光譜儀。配備了低噪聲TE制冷的薄型背照式(BT)CCD探測器,具有較高的動態(tài)范圍。通過基于透射光學-獨特光譜儀和高量子效率的探測器相結合,可在整個532-1100nm的光譜范圍內提供優(yōu)秀的數(shù)據質量。BTC665N具有較高的信噪比,是弱光條件下應用的理想選擇。
產品分類:紫外-可見-近紅外光譜儀
Quantity
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產品介紹
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技術參數(shù)
產品視頻

應用:

  • 拉曼和熒光光譜分析
  • 生物光譜分析
  • 氣體和水分析

 

特點:

  • 在可見和近紅外波段有高響應
  • 探測器配備2048個像元
  • 200nm處的量子效率(QE)大于60%(QE峰值為80%)
  • 軟件中可設置制冷溫度(默認-2°C)
  • 超低噪聲

智能:板載數(shù)據處理功能,包含平均、光譜平滑以及暗噪聲扣除。

速度:當設置積分時間為6.3us時,每秒可采集和傳輸>140張光譜。

 

積分時間為30分鐘時暗噪聲

 

附件:

  • 光纖探頭  
  • 光纖耦合樣品支架  
  • 光纖
  • 光源  


軟件:

BWSpec®光譜數(shù)據采集軟件可執(zhí)行復雜的測量和計算。它允許用戶在多種數(shù)據格式之間進行選擇,并可以設置掃描參數(shù),如積分時間。除了強大的數(shù)據采集和數(shù)據處理功能外,還包括自動去除暗電流、光譜平滑和手動/自動基線校正等功能。并可額外提供帶演示代碼的SDK。
 
 
狹縫:

狹縫

尺寸

光譜范圍

光譜分辨率 FWHM(標準)

10 µm

10 µm x 1mm

532 – 687 nm

~ 0.16 nm

20 µm

20 µm x 1mm

788 – 1067 nm

~ 0.37 nm

客戶可定制狹縫寬度

衍射光柵:

建議響應波段

光譜范圍 (nm)

光柵

NIR

788 - 1067

1000 / 900

Vis

532 - 687

1800 / 500

客戶定制可選

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技術參數(shù):

型號

BTC665N

電源

5V DC @ 9.0 A (啟動時最大值)

5V DC @ 4.0 A (正常工作時典型值)

探測器

背照式 CCD 陣列

光譜范圍

532 nm - 1100 nm

探測器像元

2048個有效像元

有效像元尺寸

14 um x ~ 0.9 mm

光譜儀 f/#

2.2

光譜儀光路

雙向透射

動態(tài)范圍

50000 (典型值)

數(shù)字分辨率

16-bit 65,5351

數(shù)據傳輸速度

>140/秒,設置積分時間為100ms,在突發(fā)模式下

觸發(fā)延時

95 ns +/- 20 ns (見時序圖)

讀出速度

> 400 kHz

積分時間

100ms-30min

Aux 接口

外部觸發(fā)控制,4路數(shù)字信號輸出(2路控制快門), 2路數(shù)字信號輸入, 模擬信號輸入, 模擬信號輸出和系統(tǒng)復位

工作溫度

5°C - 35°C

工作相對濕度

85% ,無冷凝

CCD 制冷

-2°C@室溫25°C

重量

2.0 kg

尺寸

198mm x 180mm x 102mm

電腦接口

USB 3.0 / 2.0

操作系統(tǒng)

Windows: 7, 8, 10, 11

應用指南

/APPLICATION GUIDE
/
用于拉曼和熒光光譜學的制冷光纖光譜
2022-02-10
使用陣列探測器和光纖輸入的緊湊型光譜儀正被用于各種 光譜應用。從歷史上看,這種設計的局限性之一是檢測限 較差,特別是在低光照度的應用,如熒光和拉曼光譜學。 性能下降的主要原因與非制冷探測器自身有較高的噪聲有 關。然而,熱電(TE)制冷光譜儀的技術突破可顯著降低噪 聲指標,并可允許得到更長積分時間的信號,從而降低檢 測限。在本應用說明中,我們通過將熱電(TE)制冷光譜儀 與非制冷設備進行比較,來展示熱電(TE)制冷光譜儀在熒 光和拉曼光譜學中的優(yōu)勢。
/
正確地維護和使用光纖
2022-02-10
光纖用于現(xiàn)代光譜儀器是巨大的創(chuàng)新。利用光纖采樣有很 多優(yōu)勢,包括可以靈活地在不同的取樣點進行測量,使用 方便,以及靈活性強,便于運輸。光纖采樣被廣泛應用于 UV-Vis 光譜儀、NIR 光譜儀、激光激發(fā)的傳輸,拉曼的信號收集、熒光光譜儀和使用這些光譜學技術的在線過程分析儀。光纖技術將分析帶出了實驗室,將原需要固定的臺式設備帶到任何可以想象到的地方進行分析。然而,使用方式的靈活對光纖組件的相關護理和維護提出了更多的責任要求,這樣才能確保測量質量和光纖的耐久性。
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