產(chǎn)品展示
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描述：
產(chǎn)品展示
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深度制冷的高通量光譜儀
Product number
深度制冷的高通量光譜儀
規(guī)格:
Quantity
-
+
Stock:
0
產(chǎn)品介紹
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技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品視頻
產(chǎn)品應(yīng)用：
- 拉曼和熒光光譜分析
- 在線過(guò)程監(jiān)測(cè)
- 生物光譜分析
- LCD顯示測(cè)量
- 氣體和水質(zhì)分析
特點(diǎn)：
- 在紫外，可見(jiàn)和近紅外波段有高響應(yīng)
- 探測(cè)器配備2048個(gè)像元
- 200nm處的量子效率（QE）大于60%（QE峰值為80%）
- 軟件中可設(shè)置制冷溫度（默認(rèn)-25°C）
- 超低噪聲
智能： 板載數(shù)據(jù)處理功能，包含平均、光譜平滑以及暗噪聲扣除。
速度：當(dāng)設(shè)置積分時(shí)間6.3us時(shí)，每秒可采集和傳輸>140張光譜。
信噪比：當(dāng)積分時(shí)間為30分鐘時(shí)，信噪比可優(yōu)于540:1
積分時(shí)間為30分鐘時(shí)暗噪聲
附件：
- 光纖探頭
- 光纖耦合樣品支架
- 光纖
- 光源
軟件：
BWSpec®光譜數(shù)據(jù)采集軟件可執(zhí)行復(fù)雜的測(cè)量和計(jì)算。它允許用戶在多種數(shù)據(jù)格式之間進(jìn)行選擇，并可以設(shè)置掃描參數(shù)，如積分時(shí)間。除了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理功能外，還包括自動(dòng)去除暗電流、光譜平滑和手動(dòng)/自動(dòng)基線校正等功能。并可額外提供帶演示代碼的SDK。
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標(biāo)準(zhǔn)配置*： |
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光譜范圍
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532 – 687 nm
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788 – 1067 nm
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狹縫
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10 um
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20 um
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分辨率
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0.16 nm
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0.37 nm
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狹縫：
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狹縫 |
尺寸 |
光譜范圍 |
光譜分辨率 FWHM（標(biāo)準(zhǔn)） |
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10µm |
10µm x 1mm |
532 – 687nm |
~ 0.16nm |
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20µm |
20µm x 1mm |
788 – 1067nm |
~ 0.37nm |
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客戶可定制狹縫寬度 |
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衍射光柵：
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建議響應(yīng)波段 |
光譜范圍 (nm) |
光柵 |
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NIR |
788 - 1067 |
1000 / 900 |
|
Vis |
532 - 687 |
1800 / 500 |
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客戶定制可選 |
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上一個(gè)
Exemplar? T
下一個(gè)
Exemplar? Pro
應(yīng)用指南
/APPLICATION GUIDE
用于拉曼和熒光光譜學(xué)的制冷光纖光譜
2022-02-10
使用陣列探測(cè)器和光纖輸入的緊湊型光譜儀正被用于各種
光譜應(yīng)用。從歷史上看，這種設(shè)計(jì)的局限性之一是檢測(cè)限
較差，特別是在低光照度的應(yīng)用，如熒光和拉曼光譜學(xué)。
性能下降的主要原因與非制冷探測(cè)器自身有較高的噪聲有
關(guān)。然而，熱電(TE)制冷光譜儀的技術(shù)突破可顯著降低噪
聲指標(biāo)，并可允許得到更長(zhǎng)積分時(shí)間的信號(hào)，從而降低檢
測(cè)限。在本應(yīng)用說(shuō)明中，我們通過(guò)將熱電(TE)制冷光譜儀
與非制冷設(shè)備進(jìn)行比較，來(lái)展示熱電(TE)制冷光譜儀在熒
光和拉曼光譜學(xué)中的優(yōu)勢(shì)。
正確地維護(hù)和使用光纖
2022-02-10
光纖用于現(xiàn)代光譜儀器是巨大的創(chuàng)新。利用光纖采樣有很
多優(yōu)勢(shì)，包括可以靈活地在不同的取樣點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量，使用
方便，以及靈活性強(qiáng)，便于運(yùn)輸。光纖采樣被廣泛應(yīng)用于
UV-Vis 光譜儀、NIR 光譜儀、激光激發(fā)的傳輸，拉曼的信號(hào)收集、熒光光譜儀和使用這些光譜學(xué)技術(shù)的在線過(guò)程分析儀。光纖技術(shù)將分析帶出了實(shí)驗(yàn)室，將原需要固定的臺(tái)式設(shè)備帶到任何可以想象到的地方進(jìn)行分析。然而，使用方式的靈活對(duì)光纖組件的相關(guān)護(hù)理和維護(hù)提出了更多的責(zé)任要求，這樣才能確保測(cè)量質(zhì)量和光纖的耐久性。
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