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光柵

光譜儀知識

/SPECTROMETER KNOWLEDGE
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光柵

  • 分類:光譜儀知識
  • 發(fā)布時間:2022-01-11 10:27:35
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概要:
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詳情

 

光譜儀的衍射光柵決定了波長范圍,并部分決定了光譜儀所能達(dá)到的光學(xué)分辨率。選擇正確的光柵是優(yōu)化光譜儀獲得佳光譜結(jié)果的關(guān)鍵因素。光柵會影響光學(xué)分辨率和特定波長范圍內(nèi)的效率。光柵可以分為兩部分:刻線密度和閃耀角,在下面的部分中進(jìn)一步解釋。

  

衍射光柵有兩種類型: 刻劃光柵和全息光柵。通過將大量的平行凹槽蝕刻在基片表面,然后鍍上高反射材料,就形成了刻劃光柵。而全息光柵則是通過兩束紫外線干涉,在一塊光學(xué)玻璃上產(chǎn)生正弦折射率變化而形成的。這種工藝能產(chǎn)生更均勻的光譜響應(yīng),但整體效率卻低得多。

 

雖然刻劃光柵是簡單和不昂貴的光柵制造,但它們表現(xiàn)出更多的雜散光。這是由于刻線的表面缺陷和其它誤差造成的。因此,在探測器響應(yīng)較差、光學(xué)器件損耗較大的光譜應(yīng)用(如紫外光譜)中,通常會選擇全息光柵來改善光譜儀的雜散光性能。全息光柵的另一個優(yōu)點(diǎn)是它們很容易在凹面上形成,因此可以同時用作色散元件和聚焦光學(xué)元件。

 

刻線密度

 

色散量由每毫米光柵上的溝槽數(shù)量決定。這通常被稱為刻線密度。光柵的刻線密度決定了光譜儀的波長范圍,也是光譜分辨率的一個主要因素。光譜儀的波長范圍與光柵的離散度成反比。然而,色散越大,光譜儀的分辨能力就越大。與之相反,減小刻線密度減小了色散,增加波長覆蓋范圍,降低了光譜分辨率。

 

例如,如果您選擇的是 900g/mm 光柵的 Exemplar™ 光譜儀,其波長范圍為 370 納米,光學(xué)分辨率可至約 0.5 納米。相比之下,如果選擇配備 600g/mm 光柵的 Exemplar™,則波長范圍可達(dá) 700nm,光學(xué)分辨率可至 約1.0nm。如本例所示,您可以在犧牲光學(xué)分辨率的情況下增加波長范圍。

 

當(dāng)所需的波長范圍較寬時,即λmax > 2λmin,不同衍射階數(shù)波長的光信號可能會出現(xiàn)在探測器平面上的同一空間位置,這一點(diǎn)在我們了解光柵方程后就會明白。在這種情況下,需要一個線性變量過濾器(LVF)來消除任何不必要的高階貢獻(xiàn),或進(jìn)行 "階次排序"。

對于固定光柵光譜儀,光柵的角色散可用以下公式描述:


其中,Βeta 是衍射角,d是刻線周期(等于刻線密度的倒數(shù)),m 是衍射階數(shù),λ 是光波長,如下圖 1-1 所示。

 

 

考慮到聚焦鏡的焦距 (F),并假設(shè)小角度近似,公式2-1 可改寫為:

 

 

得出以 nm/mm 為單位的線性色散。根據(jù)線性色散,光譜范圍(λmax - λmin)可根據(jù)探測器長度(LD)計算得出,而探測器長度可通過探測器上的像素總數(shù)(n)乘以像素寬度(Wp)計算得出,公式為:

 

 

根據(jù)公式 2-3,可以看出光譜儀的光譜范圍由探測器長度 (LD)、刻線密度 (1/d) 和焦距 (F) 決定。衍射光柵可分辨的小波長差由以下公式得出:

 


其中 N 是衍射光柵上凹槽的總數(shù)。這符合變換極限理論,即任何變換小的可分辨單位與樣本數(shù)量成反比。一般來說,光柵的分辨能力遠(yuǎn)高于光譜儀的整體分辨能力,這表明色散只是決定整體光譜分辨率的眾多因素之一。


還應(yīng)該注意到,光柵衍射的長波長是2d,這對光柵的光譜范圍有一個上限。對于近紅外(NIR)應(yīng)用,這種長波長限定可能制約了光譜儀的大槽密度。

 

閃耀角:

 

光柵在衍射入射多色光時,其效率并不均勻。衍射曲線的整體形狀主要由凹槽的刻面角決定 ,也就是閃耀角度。利用該特性,可以計算出閃耀角對應(yīng)的峰值效率;這叫做閃耀波長。圖 2-1,它比較了3種150g/mm 光柵分別在500nm、1250nm和2000nm閃耀。

 


圖 2-1

光柵可以進(jìn)行閃耀處理,并在特定波長(即閃耀波長 (λB))提供較高的衍射效率(>85%)。根據(jù)經(jīng)驗,光柵效率在 0.6×λB 和 1.8×λB 時會降低 50%。這就限定了光譜儀的光譜覆蓋范圍。一般來說,衍射光柵的閃耀波長偏向光譜范圍的弱側(cè),以提高光譜儀的整體信噪比(SNR)。

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